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IMLD-B型(xing)中(zhong)空玻璃露點儀（半導體制冷）是我公(gong)司根據GB/T11944—2012《中(zhong)空玻璃》的(de)(de)規(gui)定(ding)條(tiao)件(jian)自(zi)主研發與生產的(de)(de)試驗設備。用來(lai)測量(liang)中(zhong)空玻璃的(de)(de)露點，檢測中(zhong)空玻璃試樣內表面在(zai)標準規(gui)定(ding)條(tiao)件(jian)和方法情況(kuang)下是否結(jie)露。

IMLD-A型中(zhong)空(kong)玻璃露(lu)點(dian)(dian)儀（干冰式）用來測(ce)量中(zhong)空(kong)玻璃的(de)(de)露(lu)點(dian)(dian)，一般是(shi)(shi)將測(ce)量器件放置在(zai)試樣的(de)(de)表面，將溫(wen)度冷卻到(dao)等于(yu)或(huo)低于(yu)-60℃并保持(chi)此(ci)溫(wen)度，達(da)到(dao)設定的(de)(de)時間以后，觀(guan)察試樣的(de)(de)結露(lu)情況。干冰式中(zhong)空(kong)玻璃露(lu)點(dian)(dian)儀是(shi)(shi)利用干冰的(de)(de)低溫(wen)度點(dian)(dian)，使測(ce)試器件達(da)到(dao)我們試驗的(de)(de)要(yao)求。